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        波前像差的檢測(cè)方法

        時(shí)間:2023-03-30 理論教育 版權(quán)反饋
        【摘要】:波前像差的測(cè)量是通過(guò)波前像差儀來(lái)完成的。波前像差儀所測(cè)量的是整個(gè)眼球的屈光通路,包括整個(gè)屈光表面,如淚膜、角膜前表面、角膜基質(zhì)、角膜后表面、晶狀體前表面、晶狀體實(shí)質(zhì)、晶狀體后表面、玻璃體以及視網(wǎng)膜。主觀檢測(cè)法需要患者的配合,因此耗時(shí)較長(zhǎng)。目前,應(yīng)用于臨床上的波前像差儀主要是根據(jù)Scheriner-Smirnov原理設(shè)計(jì)的主觀像差儀和根據(jù)Hartmann-Shack和Tscherning原理設(shè)計(jì)的客觀像差儀,基于它們的設(shè)計(jì)原理,這兩種類型的波前像差儀各有特點(diǎn)。

        波前像差的測(cè)量是通過(guò)波前像差儀來(lái)完成的。波前像差儀所測(cè)量的是整個(gè)眼球的屈光通路,包括整個(gè)屈光表面,如淚膜、角膜前表面、角膜基質(zhì)、角膜后表面、晶狀體前表面、晶狀體實(shí)質(zhì)、晶狀體后表面、玻璃體以及視網(wǎng)膜。它能夠檢測(cè)出眼球在0.05μm范圍內(nèi)的屈光狀況,目前其他任何屈光檢測(cè)儀器都無(wú)法達(dá)到,要比其他驗(yàn)光系統(tǒng)包括角膜地形圖的精確度高20~50倍。

        波前像差的測(cè)量主要基于兩種理論:干涉度量學(xué)(interferometry)理論和光路追蹤(ray tracing)理論。其中干涉度量學(xué)是利用光的干涉原理為基礎(chǔ),設(shè)計(jì)和制造出各種干涉儀和干涉裝置用以各種精密的測(cè)量。例如用薄膜干涉原理可檢測(cè)平面和曲面的光潔程度,其精度可達(dá)1/120μm,各種干涉儀可以進(jìn)行大到天體直徑,小到物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)及光波波長(zhǎng)等特殊量的精密測(cè)量。光路追蹤理論是在用作圖法研究光的傳播和成像問(wèn)題時(shí),抓住物點(diǎn)上發(fā)出的某條光線為研究對(duì)象,不斷追蹤下去的方法。

        目前,測(cè)量人眼波前像差方法的種類很多,通常分為客觀測(cè)量法和主觀測(cè)量法兩大類。

        主觀檢測(cè)法需要患者的配合,因此耗時(shí)較長(zhǎng)。客觀檢測(cè)法則通常需要用成像系統(tǒng)來(lái)分析從視網(wǎng)膜上反射回來(lái)的信息。客觀測(cè)量法,多以光線追蹤理論為基礎(chǔ),其基本原理是:通過(guò)貫穿入瞳的列陣光線斜率的整合來(lái)重現(xiàn)眼內(nèi)的波前像差。該方法在1900年時(shí)首先由Hartmann實(shí)現(xiàn)。目前基本分可以分為三類:以Hartmann-Shack原理為基礎(chǔ)的出射型光學(xué)像差儀,以Tscherning原理為基礎(chǔ)的入射型光學(xué)像差儀和光學(xué)路徑差異型像差儀。主觀測(cè)量法,有基于Scheriner-Smirnov原理的可調(diào)節(jié)入射光線折射儀。

        目前,應(yīng)用于臨床上的波前像差儀主要是根據(jù)Scheriner-Smirnov原理設(shè)計(jì)的主觀像差儀和根據(jù)Hartmann-Shack和Tscherning原理設(shè)計(jì)的客觀像差儀,基于它們的設(shè)計(jì)原理,這兩種類型的波前像差儀各有特點(diǎn)。其中,主觀像差儀具有測(cè)量的準(zhǔn)確性好,可測(cè)大像差,對(duì)人眼沒(méi)有損害及不受人工晶體和瞳孔的影響等優(yōu)點(diǎn)。這種像差儀的主要局限性在于主觀調(diào)節(jié),矯正偏差的光點(diǎn)耗時(shí)較長(zhǎng)(圖3-1)。

        圖3-1 波前像差檢查法分類

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