1.2.2　EDA技術(shù)的優(yōu)勢(shì)

1.手工設(shè)計(jì)方法

傳統(tǒng)的數(shù)字電子系統(tǒng)或IC設(shè)計(jì)中，手工設(shè)計(jì)占了較大的比例。手工設(shè)計(jì)一般先按電子系統(tǒng)的具體功能要求進(jìn)行功能劃分，然后對(duì)每個(gè)子模塊寫出其真值表，用卡諾圖進(jìn)行簡(jiǎn)化，寫出布爾表達(dá)式，畫出相應(yīng)的邏輯線路圖，再據(jù)此元器件，設(shè)計(jì)電路板，最后進(jìn)行實(shí)測(cè)與調(diào)試。手工設(shè)計(jì)方法的缺點(diǎn)是：

（1）復(fù)雜電路的設(shè)計(jì)、調(diào)試十分困難；

（2）由于無法進(jìn)行硬件系統(tǒng)仿真，如果某一過程存在錯(cuò)誤，查找和修改十分不便；

（3）設(shè)計(jì)過程中產(chǎn)生大量文檔，不易管理；

（4）對(duì)于集成電路設(shè)計(jì)而言，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過程與具體生產(chǎn)工藝直接相關(guān)，因此可移植性差；

（5）只有在設(shè)計(jì)出樣機(jī)或生產(chǎn)出芯片后才能進(jìn)行實(shí)測(cè)。

2.EDA技術(shù)

與手工設(shè)計(jì)相比，EDA技術(shù)有很大不同：

（1）用HDL對(duì)數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行抽象的行為與功能描述以及具體的內(nèi)部線路結(jié)構(gòu)描述，從而可以在電子設(shè)計(jì)的各個(gè)階段、各個(gè)層次進(jìn)行計(jì)算機(jī)模擬驗(yàn)證，保證設(shè)計(jì)過程的正確性，可以大大降低設(shè)計(jì)成本，縮短設(shè)計(jì)周期。

（2）EDA技術(shù)之所以能完成各種自動(dòng)設(shè)計(jì)過程，關(guān)鍵是有各類庫(kù)的支持。

（3）某些HDL也是文檔型的語(yǔ)言（如VHDL），極大簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)文檔的管理。

（4）EDA技術(shù)中最為矚目的功能，即最具現(xiàn)代電子設(shè)計(jì)技術(shù)特征的功能是日益強(qiáng)大的邏輯設(shè)計(jì)仿真測(cè)試技術(shù)。EDA仿真測(cè)試技術(shù)只需通過計(jì)算機(jī)，就能對(duì)所設(shè)計(jì)的電子系統(tǒng)從各個(gè)不同層次的系統(tǒng)性能特點(diǎn)完成一系列準(zhǔn)確的測(cè)試與仿真操作，在完成實(shí)際系統(tǒng)的安裝后，還能對(duì)系統(tǒng)上的目標(biāo)器件進(jìn)行所謂邊界掃描測(cè)試。這一切都極大地提高了大規(guī)模系統(tǒng)電子設(shè)計(jì)的自動(dòng)化程度。

（5）設(shè)計(jì)者擁有完全的自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。用HDL完成的設(shè)計(jì)在實(shí)現(xiàn)目標(biāo)方面有很大的可選性，既可以用各種通用的CPLD／FPGA實(shí)現(xiàn)，也可以直接以ASIC來實(shí)現(xiàn)，設(shè)計(jì)者擁有完全的自主權(quán)。

（6）開發(fā)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化，具有良好的可移植與可測(cè)試性。EDA技術(shù)的設(shè)計(jì)語(yǔ)言是標(biāo)準(zhǔn)化的，不會(huì)由于設(shè)計(jì)對(duì)象的不同而改變；它的開發(fā)工具是規(guī)范化的，EDA軟件平臺(tái)支持任何標(biāo)準(zhǔn)化的設(shè)計(jì)語(yǔ)言；它的設(shè)計(jì)成果是通用的，IP核具有規(guī)范的接口協(xié)議。

（7）從電子設(shè)計(jì)方法學(xué)來看，EDA技術(shù)最大的優(yōu)勢(shì)就是能將所有設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)納入一個(gè)統(tǒng)一的自頂向下的設(shè)計(jì)方案中。

（8）EDA不但在整個(gè)設(shè)計(jì)流程上充分利用計(jì)算機(jī)的自動(dòng)設(shè)計(jì)能力，在各個(gè)設(shè)計(jì)層次上利用計(jì)算機(jī)完成不同內(nèi)容的仿真模擬，而且在系統(tǒng)板設(shè)計(jì)結(jié)束后仍可利用計(jì)算機(jī)對(duì)硬件系統(tǒng)進(jìn)行完整的測(cè)試。